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レーザー回折・散乱法 粒度分布測定装置 LS13320 XR

▲ LS13320 XR
低角前方光散乱とPIDS(偏光散乱強度差)技術。 3つの波長を使用し6つの異なる角度の垂直方向および水平方向の偏光を測定。 フラウンホーファー回折法およびミー散乱法を合わせて実装。

(特徴)
  • 10 nm ~ 3,500 μmまで測定
  • レーザーダイオード(785 nm)
ベックマン・コールター事業部
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