レーザー回折・散乱法 粒度分布測定装置 LS13320 XR

低角前方光散乱とPIDS（偏光散乱強度差）技術。 3つの波長を使用し6つの異なる角度の垂直方向および水平方向の偏光を測定。 フラウンホーファー回折法およびミー散乱法を合わせて実装。

（特徴）
ベックマン・コールター事業部
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