レーザー回折・散乱法 粒度分布測定装置
レーザー回折・散乱法 粒度分布測定装置 LS13320 XR
低角前方光散乱とPIDS（偏光散乱強度差）技術。 3つの波長を使用し6つの異なる角度の垂直方向および水平方向の偏光を測定。 フラウンホーファー回折法およびミー散乱法を合わせて実装。
（特徴）
- 10 nm ～ 3,500 μmまで測定
- レーザーダイオード（785 nm）
ベックマン・コールター事業部
《キャンペーン開催中》
・LS 13 320 & 最新型 LS 13 320XR Trade-inキャペーン
１．アプリケーションノート：LS 13 320 XRの安定した再現性と高い操作性（トルネードモジュール）
２．アプリケーションノート：LS 13 320 XRを用いたセルロースナノファイバーの広域な粒度分布の網羅的解析
３．アプリケーションノート：LS 13 320 XRを用いた造粒粒子の乾式測定(製薬DRY)
４．アプリケーションノート：LS 13 320 XRを用いた測定下限サイズのサンプル粒子の計測（シリカ）
５．アプリケーションノート：LS13 320 XRは10 nm-2000μmまで死角なし
６．アプリケーションノート：LS 13 320 XRを用いた比重差の大きい粒子混合物の乾式測定
７．アプリケーションノート：レーザー回折・散乱法粒度分布測定装置を用いたアルミナの分散状態の評価
８．アプリケーションノート：動的光散乱法では再現性が悪く、不安定で困っていませんか
９．アプリケーションノート：分級効果の評価でわかるレーザー回折散乱法粒度分布測定装置の性能
10. アプリケーションノート：最高品質の材料を生産する上で何よりも重要なことは「見分けられる」ことです（ドライカーボン）