低角前方光散乱とPIDS（偏光散乱強度差）技術。 3つの波長を使用し6つの異なる角度の垂直方向および水平方向の偏光を測定。 フラウンホーファー回折法およびミー散乱法を合わせて実装。

（特長）検出が困難だった微細な違いを測定

LS 13 320 XR
は、次世代型PIDS技術により更に高精度な測定と広いダイナミックレンジを搭載した今までにない粒度分布測定装置です。

LS 13
320と同様に高速、高精度な測定を行えることに加え、シンプルな操作性でより効率的に運用できます。

* 10 nm ～ 3,500 µmの広範囲を実測
* 合否を自動ハイライトすることでより効率的に運用可能
* わずかな操作で標準測定を設定できるソフトウェア

ベックマン・コールター事業部

《キャンペーン終了》
・LS 13 320　&　最新型　LS 13 320XR Trade-inキャペーン

１．アプリケーションノート：LS 13 320 XRの安定した再現性と高い操作性（トルネードモジュール）
２．アプリケーションノート：LS 13 320 XRを用いたセルロースナノファイバーの広域な粒度分布の網羅的解析
３．アプリケーションノート：LS 13 320 XRを用いた造粒粒子の乾式測定(製薬DRY)
４．アプリケーションノート：LS 13 320 XRを用いた測定下限サイズのサンプル粒子の計測（シリカ）
５．アプリケーションノート：LS13 320 XRは10 nm-2000μmまで死角なし
６．アプリケーションノート：LS 13 320 XRを用いた比重差の大きい粒子混合物の乾式測定
７．アプリケーションノート：レーザー回折・散乱法粒度分布測定装置を用いたアルミナの分散状態の評価
８．アプリケーションノート：動的光散乱法では再現性が悪く、不安定で困っていませんか
９．アプリケーションノート：分級効果の評価でわかるレーザー回折散乱法粒度分布測定装置の性能
10. アプリケーションノート：最高品質の材料を生産する上で何よりも重要なことは「見分けられる」ことです（ドライカーボン）