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ベックマン・コールター製品

レーザー回折・散乱法 粒度分布測定装置

レーザー回折・散乱法 粒度分布測定装置 LS13320 XR

低角前方光散乱とPIDS(偏光散乱強度差)技術。 3つの波長を使用し6つの異なる角度の垂直方向および水平方向の偏光を測定。 フラウンホーファー回折法およびミー散乱法を合わせて実装。

(特徴)

  • 10 nm ~ 3,500 μmまで測定
  • レーザーダイオード(785 nm)

ベックマン・コールター事業部
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1.アプリケーションノート:LS 13 320 XRの安定した再現性と高い操作性(トルネードモジュール)
2.アプリケーションノート:LS 13 320 XRを用いたセルロースナノファイバーの広域な粒度分布の網羅的解析
3.アプリケーションノート:LS 13 320 XRを用いた造粒粒子の乾式測定(製薬DRY)
4.アプリケーションノート:LS 13 320 XRを用いた測定下限サイズのサンプル粒子の計測(シリカ)
5.アプリケーションノート:LS13 320 XRは10 nm-2000μmまで死角なし
6.アプリケーションノート:LS 13 320 XRを用いた比重差の大きい粒子混合物の乾式測定
7.アプリケーションノート:レーザー回折・散乱法粒度分布測定装置を用いたアルミナの分散状態の評価
8.アプリケーションノート:動的光散乱法では再現性が悪く、不安定で困っていませんか
9.アプリケーションノート:分級効果の評価でわかるレーザー回折散乱法粒度分布測定装置の性能
10. アプリケーションノート:最高品質の材料を生産する上で何よりも重要なことは「見分けられる」ことです(ドライカーボン)